• <samp id="0e8y8"></samp>
  • <xmp id="0e8y8">
  • <samp id="0e8y8"><dd id="0e8y8"></dd></samp>
  • TAKAOKA TOKO MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置
    • 概述
    • 參數
    • 應用范圍
    • 資料
    • 相關產品
    • 品牌
    • 視頻

      MIS-CA1804T/MIS-CA1303T半導體用光掩模缺陷檢查裝置特點:


      高速,高感度Die-DB檢查

      可以很靈敏的檢測出CD缺陷

      可以離線回放檢查

      (如果需要在離線回放檢查時同時進行處理,需要另外追加 PC設備)

      可以進行Die和DB檢查領域的混合檢查(選配項)

      Allowed combination inspection of Die-DB and Die-Die

      可以對應MIS-CA1804T / 180nm設計規則

      (最小檢出缺陷尺寸:250nm)

      可以對應MIS-CA1303T / 130nm設計規則

      (最小檢出缺陷尺寸:180nm)



    法律聲明  |   網站地圖  |   來訪路線  |   MALCOM

    關注衡鵬:

    qrcode_for_gh_229534a5836f_860.jpg

  • <samp id="0e8y8"></samp>
  • <xmp id="0e8y8">
  • <samp id="0e8y8"><dd id="0e8y8"></dd></samp>
  • videosxxoo18欧美_学生强伦姧老师在线观看一_日本暴力强奷在线播放视频_女邻居的大乳中文字幕